“给你一个解释的机会，证明不是你的错！”

从事硬件电路设计不到两年的小李设计了某产品的硬件电路。

　　PCB打样回来后手工焊接好，发现样板没有如预期工作。

　　经过几天的调试，终于发现是信号调理电路部分出问题。

　　但是该部分电路设计是沿用之前产品中的成熟电路，是经过验证没有问题的。

　　小李百思不得其解，焦头烂额，就来请教主管：拥有超过10年工作经验的老樊。

　　老樊稍作研究后，让小李读信号调理电路中用到的某款运放芯片手册，同时检测运放的好坏。

　　小李反复阅读芯片手册多次后，继续向老樊请教运放芯片测试。

　　看到如此好学的小李，老樊想起了年轻时候的自己，就让小李去研发物料仓取来几颗此次电路用到的运放芯片来到会议室，然后给小李实例讲解运放芯片及其测试。

　　小李当然不会放过此次良机，记录了学习笔记如下：

现在公司有正负电压源，高精度万用表，示波器，信号发生器。

　　用这些仪器测试运放芯片，可以测试运放的各种参数。

　　以下测试所有IC的电源（V+和V-端）需要加0.1uF电容。

　　1

ICC电流

ICC测试方法：

正负2.5V电源供电。

V+ = 2.50V、V- = -2.50V，Vin = 0V, 测试V+电流。

　　2

摆率测试

摆率测试方法：

正负2.5V电源供电。

VIN输入V+到V-的方波，由示波器观察VO波形。

　　求VO上升和下降的斜率，就是SR+和SR-。

　　3

VOS、PSRR、CMRR测试

　　VOS测试方法：

正负2.5V电源供电。

其中RI=50Ω, RF=20KΩ，电阻可选不同阻值，增益不同。

Av=1+RF/RI。

V+ = 2.5V、V- = -2.5V，VA=0V。

　　测试VL=V0，VOS=V0/AV

PSRR测试方法：

正负2.5V电源供电。

V+ = 2.0V，V- = -0.5V，VA = +0.75V， 测试VL=V1。

V+ = 3.5V，V- = -2.0V, VA = +0.75V，测试VL=V2。

PSRR=20log((3XAv)/(V2-V1))。

CMRR测试方法：

正负2.5V电源供电。

1. V+ = +2.0V, V- = -3.5V, VA = -0.75V，测试VL=V3。

2. V+ = +5.7V, V- = +0.2V, VA = +2.95V，测试VL=V4。

3. V+ = -0.2V, V- = -5.7V, VA = -2.95V，测试VL=V5。

CMRR1=20log((3.7xAv)/(V3-V4))。

CMRR2=20log((5.9XAv)/(V4-V5))。

　　4

AOL测试

AOL测试方法：

正负2.5V电源供电。

其中RI=50Ω, RF=20KΩ。

AOL1：RL=10K。

V+ = 2.5V，V- = -2.5V，VA= +2.475V，RL=10K，测试VL=V6。

V+ = 2.5V， V- = -2.5V， VA= -2.475V，RL=10K，测试VL=V7。

AOL1=20log((4.95XAv)/(V6-V7))。

AOL2：RL=2K。

V+ = 2.5V， V- = -2.5V，VA= +2.425V，RL=2K，测试VL=V8。

V+ = 2.5V，V- = -2.5V，VA= -2.425V，RL=2K，测试VL=V9。

AOL2=20log((4.85XAv)/(V8-V9))。

　　5

输出驱动能力测试

　　

　　Isource测试原理图

Isink测试原理图

测试方法：

正负2.5V电源供电。

可以同相输入端或反相输入端加入信号。

　　测试输出对地电流。

　　6

输入偏置电流与失调电流测试

输入失调电流、偏置电流测试方法：

正负2.5V电源供电。

S1、S2都闭合，示波器测试输出。

　　S1断开，看示波器波形变化。

　　取线性变化部分dV/dT就是同相端IB/C。

S1、S2都闭合，示波器测试输出。

　　S2断开，看示波器波形变化。

　　取线性变化部分dV/dT就是反相端IB/C。

　　求出两个IB后，取平均值就是IB，取差就是IOS。

这种测试方法可以测得fA级的失调电流。

　　测试时需要选用低漏电流的电容，推荐使用极低漏电流的特氟龙电容，聚丙烯(PP)电容或聚苯乙烯电容。

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